отзывов пока нет
+380 (44) 454-05-90
Украина,Киев,бульвар Ивана Лепсе, 4, офис 308, Киев
11
августа
2011

Nanovea (Micro Photonics Inc.) - комплекс современного оборудования для оценки свойств поверхности

ООО «Мелитэк-Украина» является эксклюзивным представителем компании Nanovea (филиал компании Micro Photonics Inc.

ООО «Мелитэк-Украина» является эксклюзивным представителем компании Nanovea (филиал компании Micro Photonics Inc.) в Украине.

КомпанииNanovea (Micro Photonics Inc.)

предлагает комплекс современного оборудования, соответствующий новейшим техническим стандартам, для оценки свойств поверхности.

Нанотвердомеры и скрэтч-тестеры - приборы, позволяющие проводить испытания тонких/толстых покрытий и подложек в нано и микро/макро диапазоне с нагрузками от 5 мН до 200 Н методами инструментального (измерительного) индентирования и царапания, используются для определения:

- твердости поверхностного слоя

- модуля упругости

- адгезионной/когезионной прочности

- механизма разрушения покрытий

- износостойкость

Оборудование визуализации: оптический микроскоп, сканирующий зондовый трехмерный атомно-силовой микроскоп

Дополнительное оборудование: герметичные камеры, антивибрационные столы, устройства для нагрева образцов в процессе испытаний, различные инденторы, поворотный столик для трибологических исследований

Трибометры - приборы, позволяющие проводить испытания покрытий и подложек с максимальной нагрузкой до 40Н (специальное решение для нагрузок до 300 Н) при поверхностном скольжении и изнашивании в процессе вращательного движения, используются для определения:

- механизма износа и износостойкость

- коэффициента трения

- потери на трение

Дополнительное оборудование: линейный модуль с возвратно-поступательным движением, модуль четырех шаровых наконечников, высокотемпературные испытания (до 1000оС), система контроля влажности, трехрежимная смазочная система, датчики электрического сопротивления, модуль испытаний «по спирали», профилометры

Профилометры - трёхмерные бесконтактные профилометры разработаны с использованием передовой технологии, которая позволяет получить нанометрическое разрешение для проведения измерений:

O

профиля поверхности

O

шероховатости поверхности

Дополнительное оборудование: поворотные (на 360о) предметные столики различных размеров, дополнительный блок визуализации (камера), высокоскоростные модули, широкий выбор оптических головок.

Комментариев пока нет, добавьте комментарий первым.